Materialuntersuchung

Materialuntersuchungen im Rasterelektronenmikroskop

Die Rasterelektronenmikroskopie bietet umfassende Möglichkeiten der Bildgebung sowie der chemischen Analytik an nahezu jeder Probenspezies. Dabei werden Vergrößerungen bis 100.000-fach bei hoher Tiefenschärfe erzielt. Viele Untersuchen lassen sich insbesondere bei elektrisch leitfähigen Proben ohne aufwändige Präparation durchführen.

Neben metallischen Proben können bei entsprechender Probenvorbereitung auch andere Materialien (außer Flüssigkeiten) direkt im Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden.

Die große Probenkammer erlaubt die Untersuchungen von Proben mit einem Untersuchungsfeld von 100 mm x 50 mm und einer maximalen Probenhöhe von 80 mm. Bei der Probengeometrie bestehen wenige Einschränkungen.

Grundsätzlich müssen Proben für die Rasterelektronenmikroskopie Elektronen ableiten können. Über eine entsprechende Probenpräparation wie Kohlenstoffbedampfungoder Sputtern lassen sich jedoch dünne Schichten leitfähiger Materialien auf die Probenoberfläche aufbringen, so dass auch elektrisch nicht leitende Materialien wie Kunststoffe oder mineralische Stoffe untersucht werden können.

Anwendungsgebiete der Rasterelektronenmikroskopie

• Bruchflächenuntersuchung mittels REM
• Untersuchungen von verschlissenen Oberflächen
• Untersuchung von Materialfehlstellen wie Einschlüssen, Lunkern und
  Gasblasen
• Chemische Identifikation mittels EDX (z. B. nichtmetallische
   Einschlüsse, Korrosionsprodukte, Fasern)
• Darstellung von Elementverteilungen als Line Scans oder Element
   Mappings
• Probenpräparation über Kohlenstoffbedampfung und Sputtern

 

Unser Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Einrichtung